SEMICON KOREA 2020 出展のお知らせ

2020年2月5日(水)~7日(金)に韓国で開催されるSEMICON KOREAに出展致します。 今回の展示会では、超精密度Ultra Fine JIG、WAFER Probe Card展示及びWafer用3D検査装置展示を行います。 お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。 ぜひとも弊社ブースへお越しください。

主要展示内容

• Ultra Fine JIG
• Wafer Probe Card
• Wafer用3D検査装置

出展概要