SEMICON JAPAN 2022 出展のお知らせ

日本電産リードはNidec SVプローブ社（Nidec SV Probe Pte.Ltd.）と共に、半導体プロセスで必要な検査技術を提供し、多様化・高度化したお客様のニーズにお応え致します。今年も広く皆様にそれら製品のご案内を申し上げるべく、「SEMICON JAPAN 2022」に出展する運びになりましたので、下記の通りご案内申し上げます。

新製品の「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え「ウェハプローバー電気検査」、「SV TCL社の各種プローブカード」、「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご要望に合わせてご提案致しますので、是非ブースへお越しください。

出展概要

■展示予定内容（プローブカードのみ実機展示）

• IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査装置「NATS-1000」
• マルチファンクションテスター　「R-700シリーズ」
• 光学式外観検査装置　「RWiシリーズ」
• 高精度治具　「Φ15μm治具」
• 電気検査システム「GATSシリーズ」
• プローブカード

以     上