전기 검사용 테스터
R-5940
취급 회사명：니덱어드밴스테크놀로지주식회사
IC 멀티 펑션 검사 대응 고속 OPEN/LEAK 테스터
고속 도통·단락 측정, μΩ 정밀도와 고속 검사의 4단자 측정, all-CH LCR 측정에 더해,
고정밀 IC 검사로 다양화되는 요구에 부응합니다.
R-5940 시리즈는 Embedded PCB(부품 내장 기판) 검사에 대응합니다.
・전류 검출 & 고속 샘플링
・SMU(Source Measure Unit) 고속화
・LCR 측정(Option)
・HP-4W 저항 검사
・WR-μ쇼트 검사
・μ오픈 검사