프린트 기판용 자동 검사 장치
STAR REC® M6ⅡSW
취급 회사명：니덱어드밴스테크놀로지주식회사
고속·고정밀 4단자 검사 - 로터리·INDEX 테이블식 OPEN/LEAK 자동 기판 검사 장치
고밀도 다층 빌드업 기판(PCB/HDI/HLC/LED 등) 패턴의 도통·단락(절연) 검사에 최적.
4단자 검사를 고속·고정밀로 실현하며, mSAP 공법 제품에도 폭넓게 활용!
백라이트를 비롯한 miniLED 기판에도 적합한 Multi 검사를 제안합니다.
・로터리·INDEX 테이블 기구 채용
・반복 정밀도: ±5μm 이내(종합 위치 결정 정밀도 ±7.5μm 이내)
・부품 내장(Embedded IC) 기판 대응
・고속·고정밀 4단자 검사
・고속 반송과 고정밀 얼라인먼트
・원터치 지그