尼得科精密检测科技株式会社将亮相2025 年12 月17 日(周三)～12 月19 日(周五)于东京国际会展中心举办的“SEMICON Japan 2025”（2025 日本东京半导体展览会）。

　在本届展览会上，尼得科精密检测科技将以“One Stop Solution（一站式解决方案）”为主题，展出面向AI服务器、功率半导体的前沿解决方案。展示内容包括：专为面板级封装和基板产品优化的、融入了AI 技术的AVI、2D/3D 光学检测设备，以及适用于IGBT/WBG 器件等领域的晶圆（KGD）/模块的电特性测试设备。同时还将根据市场趋势提供前沿的检测技术方案（例如：可满足含热管理在内的新型检测需求的探针卡等）。

 

■参展亮点

・光学检测设备“RWi-300MK3” ：融入了AI 技术的2D+3D 检测
・功率半导体检测设备“NATS Series” ：可支持IGBT/WBG 设备
・可支持高电压的加压结构探针卡 ：应用放电对策
・设备温度测量探针 ：应用热电偶技术
・2D-MEMS 探针卡 ：适用2D-MEMS 技术，支持CMOS 图像传感器
・垂直型窄间距对应探针卡 ：采用高精度电镀技术，支持55μm 窄间距
・探针“NS Probe” ：利用MEMS 工艺实现微细化与特殊形状
・自动搬运装置“EFEM” ：支持工厂自动化
・通电检测装置“GATS-8360A” ：面向AI·LEO 卫星基板
・通电检测装置“GATS-7885” ：面向PLP/Interposer

 

 

展期2025 年12 月17 日(周三)～12 月19 日(周五)
地点东京国际会展中心 东展厅
展位4Hall E4922
官网https://www.semiconjapan.org/en