半导体封装检测装置
GATS®-7755 for ICS / SLP
生产和销售公司：尼得科精密检测科技株式会社
高速·高精度穿梭式分步重复型OPEN/LEAK 电路板自动检测系统
适用于多面电路板（SLP/ICS/MCM/MCP/CSP 等）的导通和短路（绝缘） 检测。适用于微细间距FC-CSP和无芯电路板的新一代高速·高精度检测装置！
・双台面/穿梭型
・综合对位精度 ±2.5 µm
・兼容嵌入式元件电路板 （Embedded IC）
・通过无线扫描模块进行高速检测
・多种规格的测试仪可供选择
・是无芯电路板检测的理想之选