半导体封装检测装置
GATS®-7755 for ICS / SLP
生产和销售公司：尼得科精密检测科技株式会社
高速·高精度穿梭式分步重复型OPEN/LEAK 电路板自动检测系统
适用于多面电路板（SLP/ICS/MCM/MCP/CSP 等）的导通和短路（绝缘） 检测。适用于微细间距FC-CSP和无芯电路板的新一代高速·高精度检测装置！
Features 1
ダブルテーブル／シャトル式 総合アライメント精度±2.5μm 部品内蔵（Embedded IC）基板対応 ケーブルレススキャナーで高速検査を実現 多彩なテスター群からお好みの仕様を選択可、コアレス基板に最適