分析装置
XRF（蛍光X線）分析
XRF（蛍光X線）分析 ー X – ray fluorescence analysis ー
原理
X線照射により、試料中の原子の内殻軌道の電子が外にたたき出され、その空位に外殻軌道から電子が遷移する。このときに発生する固有のX線（蛍光X線）の波長から定性分析、その強度から定量分析ができる。
原理
・試料を破壊せずに、微量から多量まで迅速に数種類の元素を定性、定量分析ができます。
・試料は固体でも液体でも測定できます。
・EDS型（エネルギー分散型）XRFを所有しており、Na（ナトリウム）～ U（ウラン）の分析が可能です。
・薄膜試料についても対応いたします。（条件により、不可の場合があります。お問い合わせ願います。）
・RoHS分析スクリーニングにも最適です。
分析事例 （接着剤中の塩素分析）
表2. 分析結果
| 分析項目 | 単位 | 分析結果 ※1 |
定量下限 ※2 |
|---|---|---|---|
| Cl（塩素） | μg/g = ppm | 251.0 | 50 |
※1 分析結果は本サンプルだけに関するものです。（分析結果：N.D. = 定量下限未満）
※2 定量下限は参考値です。
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