半導体パッケージ用自動検査装置
GATS®-7512
取り扱い会社名：ニデックアドバンステクノロジー株式会社
高速高精度シャトル型ステップ＆リピート式 OPEN/LEAK自動基板検査装置
多面付け基板（CCM/Memory用途/ICS/CSP等）パターンの導通・短絡（絶縁）検査に最適 CCM/ICS検査に最適な高速高精度、コアレス対応の価格・性能ともにお求めやすい装置として新リリース！
・ダブルテーブル／シャトル式
・総合アライメント精度±5.0μm
・部品内蔵（LCR測定/Embedded IC）基板対応
・GATS-7755のコンセプトを継承しよりよい価格での提案を実現
・コアレス基板に最適