半導体パッケージ用自動検査装置
GATS®-7861
取り扱い会社名:ニデックアドバンステクノロジー株式会社

高速高精度‐上/下デュアルシャトル型ステップ&リピート式 OPEN/LEAK自動パネル基板検査装置
FC-BGA多面付け基板をデュアルシャトルで効率よく検査、パネルレベルでファインピッチなBGA製品を検査、マガジン専用ハンドラーとの接続で安定検査を実現!
・上/下デュアルシャトル型
・総合アライメント精度±5.0μm
・部品内蔵(Embedded IC)基板対応
・パネルレベル検査対応
・バンプ製品を専用マガジン搬送にて安定検査

