2023年12月13日(水)~12月15日(金)に東京ビックサイトで開催されるSEMICON Japan 2023に出展致します。
今回の展示会では、「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え「ニデックSVプローブの各種プローブカード」、「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご要望に合わせてご提案致します。
ぜひとも弊社ブースへお越しください。
出展概要
■主な展示内容（プローブカード・ベクトルネットワークアナライザーのみ実機展示）
■主な展示内容（プローブカード・ベクトルネットワークアナライザーのみ実機展示）
・IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査装置 「NATSシリーズ」
・ IGBT/SiC モジュール 動特性検査「PM特性取得波形解析ソフト」
・EVモーター(e-Axle)用テストベンチ 「TDASシリーズ」
・光学式バンプ外観検査装置 「RSH / RWiシリーズ」
・CHIPLET対応電気検査システム 「大型個片向け新型電気検査装置」
・半導体PKG OPEN/LEAK電気検査システム 「GATSシリーズ」
・高周波インピーダンス測定器 「ベクトルネットワークアナライザー」
・静電容量/インピーダンス マルチファンクションテスター 「R-700 シリーズ」
・温度測定プローブカード用「熱電対プローブ」
・プローブカード
