半導体パッケージ用光学式自動検査装置
RSH-120
取り扱い会社名:ニデックアドバンステクノロジー株式会社

次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置
次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応
Features 1
高速高精度検査が自由自在 超高速バンプ高さ検査 最適化したユーザーインターフェイス
半導体パッケージ用光学式自動検査装置
取り扱い会社名:ニデックアドバンステクノロジー株式会社

Features 1
高速高精度検査が自由自在 超高速バンプ高さ検査 最適化したユーザーインターフェイス