半導体パッケージ用光学式自動検査装置

RSH-230

取り扱い会社名：ニデックアドバンステクノロジー株式会社

RSH-230

次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置

超高速で基盤の反りを測定。次世代ICサブストレート基板の３Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応

Features 1

高速高精度検査が自由自在　超高速バンプ高さ検査　最適化したユーザーインターフェイス

製品情報