尼得科精密检测科技将亮相“SEMICON KOREA 2026”

尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参展 2026 年 2 月 11 日（周三）～2 月 13 日（周五）于韩国首尔 COEX 会议中心举办的“SEMICON KOREA 2026”。

本次展会将展出助力下一代功率半导体(IGBT/SiC)市场的检测设备“NATS 系列”以及汇总了集团技术的最新检测解决方案。

本公司子公司尼得科 SV Probe 将首次在韩国展出晶圆检测夹具“探针卡”的最新解决方案，包括可实现半导体器件温度测量的 TC(Thermo Couple：热电偶)探针，以及采用 2D MEMS 技术的探针卡等产品。

此外，我们还将展示本公司核心产品半导体封装基板电气检测系统“GATS 系列”的最新机型。
 

〈参展概要〉

・展期：2026 年 2 月 11 日(周三)～2 月 13 日(周五)
・会场：首尔市 COEX 会议中心
・展位：1 楼 Hall Grand Ballroom G004
・官网：https://www.semiconkorea.org/en
 

〈展品及 Panel 展示内容〉 

・2D-MEMS 探针卡　　　　　　　　・垂直型 高电流 PROBE
・器件温度测量 PROBE　　　　　  　・玻璃微孔加工
・IGBT/SiC 模块用绝缘/静态特性/动态特性检测设备 “NATS-1000/1700 系列”
・KGD 测试装置“NATS-1300 系列” 　・RWi-300MK(wafer AOI)
・AC/DC 多功能测试仪“R-700 系列” ・AI 服务器大型电路板电气检测系统“GATS-8360”
・超高精度检测用针式探针